Dielectric breakdown in HfO2 dielectrics: Using multiscale modeling to identify the critical physical processes involved in oxide degradation

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标题	Dielectric breakdown in HfO2 dielectrics: Using multiscale modeling to identify the critical physical processes involved in oxide degradation
网址	https://pubs.aip.org/aip/jap/article-pdf/doi/10.1063/5.00831...
DOI	10.1063/5.0083189 doi
其它	期刊：Journal of Applied Physics 作者：Jack Strand; Paolo La Torraca; Andrea Padovani; Luca Larcher; Alexander L. Shluger 出版日期：2022-06-21
求助人	礼堂丁真在 2026-04-27 13:53:39 发布自浙江，悬赏 10 积分
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