| 标题 |
Sample size and power for the weighted log‐rank test and Kaplan‐Meier based tests with allowance for nonproportional hazards 相关领域
统计
对数秩检验
数学
样本量测定
非参数统计
百分位
瓦尔德试验
津贴(工程)
统计假设检验
记分测验
生存分析
比例危险模型
秩(图论)
计量经济学
机械工程
组合数学
工程类
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Biometrics 作者:Godwin Yung; Yi Liu 出版日期:2019-12-04 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)