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Determination of the far-infrared dielectric function of a thin InGaAs layer using a detuned Salisbury screen |
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10.1364/ome.455445
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期刊:Optical Materials Express 作者:Tuan Nghia Le; Jean-Luc Pelouard; Fabrice Charra; Simon Vassant 出版日期:2022-06-24 |
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(2025-6-4)