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Characterization of SiO2 and TiO2 films prepared using rf magnetron sputtering and their application to anti-reflection coating |
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期刊:Vacuum 作者:S. Jeong; Jae-Keun Kim; Bong-Soo Kim; Seok-Ho Shim; Byung-Teak Lee 出版日期:2004-11-29 |
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