Influence of JFET Region on Heavy-Ion-Induced Gate Damage in SiC Power MOSFET

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标题	Influence of JFET Region on Heavy-Ion-Induced Gate Damage in SiC Power MOSFET
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx8/23/11006327/10943234.pdf...
DOI	10.1109/tns.2025.3555307 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Man-Yi Ji; Na Ren; Yan-Jun Li; Zheng-Jia Chen; Hong-Yi Xu; et al 出版日期：2025-05-01
求助人	李白爱字由在 2026-09-17 21:23:29 发布自河南，悬赏 10 积分
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