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![]() 基于全域三维TCAD模拟的FinFET SRAM版图相关辐射硬度研究
相关领域
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辐射硬化
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期刊: 作者:Khoa Huynh; Johan Saltin; Jin‐Woo Han; M. Meyyappan; Hiu Yung Wong 出版日期:2019-10-14 |
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