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![]() 顶侧金属层对铝焊盘上金、银和铜线键合性能的影响
相关领域
铜
铝
金属
材料科学
引线键合
冶金
工程类
电气工程
炸薯条
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其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Hsiao Chuan Yen; Fang‐I Lai 出版日期:2025-02-11 |
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