| 标题 | 
                                                                                                                                                                     Fast High‐Fidelity Fourier Ptychographic Microscopy via Wavelet Transform and Linear Attention                                                    基于小波变换和线性注意的快速高保真傅立叶重叠显微镜 
                                                         | 
                                            
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                                                        期刊:Laser & Photonics Reviews 作者:Wenwen Sun; Jiajin Li; Hao Wu; Xiang Jiang; Xingnan Zhang; et al 出版日期:2025-11-02  | 
                                                
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