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ON current enhancement and variability suppression in tunnel FETs by the isoelectronic trap impurity of beryllium 等电子陷阱杂质铍对隧道场效应晶体管电流增强和可变性的抑制
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Yoshisuke Ban; Kimihiko Kato; Shota Iizuka; Satoshi Moriyama; Koji Ishibashi; et al 出版日期:2021 |
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(2025-6-4)