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标题
Multiphysics Analysis of Bonding Interface Contact Resistance Effects on Electromigration Evolution in Cu-Cu Bonding Interconnect for 3-D Heterogeneous Integrated Circuits
相关领域
电迁移 多物理 互连 接触电阻 材料科学 电子线路 电接点 电子工程 接口(物质) 光电子学 工程物理 电气工程 纳米技术 复合材料 有限元法 工程类 图层(电子) 结构工程 电信 毛细管作用 毛细管数
网址
DOI
10.1109/ted.2025.3583693 doi
其它 期刊:IEEE Transactions on Electron Devices
作者:Yizhang Liu; Liang Tian; Yinshui Xia; Wenchao Chen
出版日期:2025-08-01
求助人
tinna 在 2026-11-11 11:35:00 发布自广东,悬赏 10 积分
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