| 标题 |
Dynamic noncontact surface profilometry using a fast eigenspace method in diffraction phase microscopy |
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| DOI |
10.1364/ao.393845
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| 其它 |
期刊:Applied Optics 作者:Sreeprasad Ajithaprasad; Jagadesh Ramaiah; Rajshekhar Gannavarpu 出版日期:2020-06-30 |
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(2025-6-4)