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Interface Trap Density Reduction for Al 2 O 3 /GaN (0001) Interfaces by Oxidizing Surface Preparation prior to Atomic Layer Deposition |
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期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Dmitry M. Zhernokletov; Muhammad A. Negara; Rathnait D. Long; Shaul Aloni; Dennis Nordlund; et al 出版日期:2015-06-02 |
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(2025-6-4)