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 Electrical detection of TV2a-type silicon vacancy spin defect in 4H-SiC MOSFETs 4H-SiC MOSFET中TV2a型硅空位自旋缺陷的电学检测
相关领域
MOSFET
材料科学
碳化硅
硅
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Yuta Abe; Akihumi Chaen; Mitsuru Sometani; Shinsuke Harada; Yuichi Yamazaki; et al 出版日期：2022-02-07 |
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