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 Effects of annealing process on the structural and photodetection properties of new thin-film solar-blind UV sensor based on Si-photonics technology 退火工艺对基于硅光子学技术的新型薄膜日盲紫外传感器结构和光电探测性能的影响
相关领域
材料科学
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期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：H. Ferhati; F. Djeffal; A. Saidi; A. Benhaya; A. Bendjerad 出版日期：2020-08-13 |
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