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![]() 集成电路布局中虚拟缺陷注入的三维工艺仿真辅助器件失效分析
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期刊:Microelectronics Reliability 作者:Abdellatif Firiti; Mehak Samnani; Arpan Bhattacherjee; Arshdeep Singh 出版日期:2023-10-01 |
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