标题 |
A test structure to reveal short-range correlation effects of mismatch fluctuations in backend metal fringe capacitors
揭示后端金属边缘电容器失配波动短程相关效应的测试结构
相关领域
电容器
匹配(统计)
航程(航空)
材料科学
电子工程
光电子学
电压
电气工程
工程类
数学
统计
复合材料
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期刊: 作者:H.P. Tuinhout; Adrie Zegers-van Duijnhoven; I. Brunets 出版日期:2018-03-01 |
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