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Scanning tunneling microscopy for imaging and quantification of defects in as-deposited MoS2 monolayers on sapphire substrates 相关领域
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期刊:Solid-State Electronics 作者:Yevhenii Rybalchenko; Albert Minj; Henry Medina; Renán Villarreal; Benjamin Groven; et al 出版日期:2023-09-16 |
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