| 标题 |
 Impact of SiC power MOSFET interface trap charges on UIS reliability under single pulse 相关领域
可靠性（半导体）
MOSFET
存水弯（水管）
功率MOSFET
接口（物质）
功率（物理）
电气工程
材料科学
脉搏（音乐）
光电子学
电子工程
计算机科学
环境科学
工程类
物理
晶体管
电压
复合材料
量子力学
毛细管数
环境工程
毛细管作用
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Microelectronics Reliability 作者：Xiaodong Wu; Ying Wang; Chenghao Yu; Xin-xing Fei; Jianqun Yang; et al 出版日期：2024-03-22 |
| 求助人 | |
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)
Kao
Copyright
学术文献互助
愉快的真
OK
叶上初阳
大力的冬萱
Nole
机智的白卉
wang
Farson
Oracle
蕃茄鱼
zhaiyiying
Criminology34
初景
lieaait
咖啡豆
cdercder
Spike
皖公网安备34019202002308
