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Influence of Dielectrics and Channel Defects on the Electrical Performance of Oxide-based p-Channel TFTs for CMOS Applications |
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期刊:2021 IEEE Latin America Electron Devices Conference (LAEDC) 作者:Viswanath G. Akkili; R. Thangavel; Viranjay M. Srivastava 出版日期:2021-05-25 |
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