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 Design and development of four-layer anti-reflection coating stacks (ZnS and YF3 thin films) for HgCdTe-based mid-wave infrared detectors 用于HgCdTe基中波红外探测器的四层减反射涂层堆叠（ZnS和YF3薄膜）的设计与开发
相关领域
材料科学
薄膜
衍射仪
碲锌镉
光电子学
碲化镉汞
红外线的
图层（电子）
光学
扫描电子显微镜
探测器
纳米技术
复合材料
物理
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期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：Vijay Singh Meena; Ajay Kumar Saini; Anand Singh; Sumit Jain; Devendra Kumar Rana; et al 出版日期：2023-04-29 |
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