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  Advanced EXAFS analysis techniques applied to the L-edges of the lanthanide oxides 相关领域
扩展X射线吸收精细结构
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期刊：Journal of Applied Crystallography 作者：Adam Smerigan; Adam S. Hoffman; Lars Ostervold; Jiyun Hong; Jorge Perez-Aguillar; et al 出版日期：2024-11-22 |
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