Demonstration of Robust Breakdown Reliability and Enhanced Endurance in Gallium Doped HfO2 Ferroelectric Thin Films

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标题	Demonstration of Robust Breakdown Reliability and Enhanced Endurance in Gallium Doped HfO2 Ferroelectric Thin Films 镓掺杂HfO2铁电薄膜抗击穿可靠性和耐久性的证明相关领域铁电性电容器电介质材料科学分析化学（期刊）物理光电子学量子力学化学有机化学电压
网址	https://doi.org/10.1109/led.2023.3299728
DOI	10.1109/led.2023.3299728 doi
其它	期刊：IEEE Electron Device Letters 作者：Teng Huang; Yuchun Li; C. Chen; Xiaoxi Li; Ze-Yu Gu; et al 出版日期：2023-07-28
求助人	硬撑着罢了在 2025-03-16 11:21:40 发布自北京，悬赏 10 积分
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