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A simple solution to systematic errors in density determination by X-ray reflectivity: The XRR-density evaluation (XRR-DE) method 用X射线反射率测定密度中系统误差的简单解决方案:XRR密度评估(XRR-DE)方法
相关领域
X射线反射率
光学
外推法
材料科学
波长
镜面反射
物理
反射率
数学
统计
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期刊:Applied Surface Science 作者:Paolo Bergese; Elza Bontempi; Laura E. Depero 出版日期:2006-07-08 |
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