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 Understanding Gate Breakdown Mechanisms in RF GaN MIS-HEMTs with thin gate SiN 相关领域
材料科学
光电子学
可靠性（半导体）
电场
随时间变化的栅氧化层击穿
外推法
电介质
堆栈（抽象数据类型）
栅极电介质
介电强度
金属有机气相外延
宽禁带半导体
氮化镓
压力（语言学）
电击穿
逻辑门
电气工程
领域（数学）
电子工程
薄膜
高-κ电介质
和大门
电路可靠性
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