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Hf0.5Zr0.5O₂-Based Ferroelectric Field-Effect Transistors With HfO₂ Seed Layers for Radiation-Hard Nonvolatile Memory Applications |
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Chen Liu; Wenwu Xiao; Yue Peng; Binjian Zeng; Shuaizhi Zheng; et al 出版日期:2021-09-01 |
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