Trapped charge induced gate oxide breakdown

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标题	Trapped charge induced gate oxide breakdown 相关领域氧化物随时间变化的栅氧化层击穿材料科学栅氧化层击穿电压电场电子晶体管凝聚态物理光电子学电压分析化学（期刊）化学电气工程物理量子力学工程类冶金色谱法
网址	https://doi.org/10.1063/1.1781766
DOI	10.1063/1.1781766 doi
其它	期刊：Journal of Applied Physics 作者：A. Neugroschel; Lingquan Wang; G. Bersuker 出版日期：2004-09-02
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