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Investigation of surface solitonic charge distribution on 2D materials using kelvin probe force microscopy technique based on qplus atomic force microscopy 基于qplus原子力显微镜的开尔文探针力显微镜技术研究二维材料表面孤子电荷分布
相关领域
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期刊:Chinese Physics B 作者:Rui Song; Feng Hao; Jie Yang; Lifeng Yin; Jian Shen 出版日期:2025-03-11 |
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