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  A General Methodological Framework for Correcting Topography Effects in AFM-Derived Physical Properties at the Nanoscale 相关领域
纳米尺度
比例（比率）
材料科学
计算机科学
纳米技术
物理
缩放比例
工作（物理）
统计物理学
领域（数学）
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期刊： 作者：Mohsen Dehbashi 出版日期：2025-01-01 |
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(2025-6-4)
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