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![]() 电阻随机存储器件Ti/h-BN界面的密度泛函理论研究
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期刊:Journal of Physics D Applied Physics 作者:Cheng Ding; Yuehua Dai; Bin Yang; Xing Li; Feifei Wang; et al 出版日期:2022-05-16 |
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keyantongaaa
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