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![]() 汽车用线性掺杂技术提高超低R ON、sp SOI-LDMOS的热载流子可靠性
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LDMOS
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Li Lu; Jiaojing Bian; Shulang Ma; Yongsheng Liu; Yixin Dai; et al 出版日期:2023-12-12 |
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