| 标题 |  Shape modulation due to sub-surface damage difference on N-type 4H–SiC wafer during lapping and polishing N型4H-SiC晶片研磨抛光过程中亚表面损伤差异引起的形状调制 相关领域 
                                                                                                                                    
                                                                        
                                                                            研磨                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            薄脆饼                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            材料科学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            抛光                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            化学机械平面化                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            复合材料                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            残余应力                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            平坦度(宇宙学)                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            扫描电子显微镜                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            光电子学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            光学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            物理                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            宇宙学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                        
                                                                        
                                                                            量子力学                                                                        
                                                                    
                                                                                                                                 | 
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| 其它 | 期刊:Materials Science in Semiconductor Processing 作者:Fenglin Guo; Chen Shao; Xiufang Chen; Xiejian Xie; Xianglong Yang; et al 出版日期:2022-12-01 | 
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