Energy distribution of interface traps in high-k gated MOSFETs

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标题	Energy distribution of interface traps in high-k gated MOSFETs
网址	https://doi.org/10.1109/vlsit.2003.1221135
DOI	10.1109/vlsit.2003.1221135 doi
其它	期刊：2003 Symposium on VLSI Technology. Digest of Technical Papers (IEEE Cat. No.03CH37407) 作者：J.-P. Han; E.M. Vogel; E.P. Gusev; C. D'Emic; C.A. Richter; et al 出版日期：2003
求助人	哭泣的如豹在 2026-03-21 15:09:44 发布，悬赏 10 积分
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