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Experimental Study on 650-V Trench-FS CS-SJ-IGBT Based on 45-μm Multi-Epi SJ-Pillar 相关领域
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Luping Li; Qiansheng Rao; Yuanzhen Yang; Zehong Li; Peng Chen; et al 出版日期:2025-11-26 |
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