Reliability assessment of graphene channel vertical TFET: Role of trap-assisted tunneling

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标题	Reliability assessment of graphene channel vertical TFET: Role of trap-assisted tunneling
网址	https://doi.org/10.1016/j.microrel.2025.115943
DOI	10.1016/j.microrel.2025.115943 doi
其它	期刊：Microelectronics Reliability 作者：Vishalli Ghai; Sidhartha Dash; Guru Prasad Mishra 出版日期：2025-10-31
求助人	jianlai 在 2025-11-12 19:40:18 发布自安徽，悬赏 10 积分
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