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Charge trapping studies on ultrathin ZrO2 and HfO2 high-k dielectrics grown by room temperature ultraviolet ozone oxidation 室温紫外臭氧氧化生长超薄ZrO2和HfO2高k介质的电荷俘获研究
相关领域
俘获
电介质
电极
臭氧
沉积(地质)
材料科学
紫外线
高-κ电介质
化学气相沉积
分析化学(期刊)
磁滞
电荷(物理)
光电子学
化学
凝聚态物理
物理化学
环境化学
量子力学
生物
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沉积物
古生物学
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物理
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Shriram Ramanathan; Paul C. McIntyre; Supratik Guha; Evgeni Gusev 出版日期:2004-01-14 |
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