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 Charge-Trapping Phenomena in HfO2-Based FeFET-Type Nonvolatile Memories HfO2基FeFET型非易失性存储器中的电荷俘获现象
相关领域
铁电性
俘获
材料科学
电荷（物理）
光电子学
物理
电介质
量子力学
生态学
生物
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| 其它 |
期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Ekaterina Yurchuk; Johannes Müller; Stefan Müller; J. Paul; Milan Pešić; et al 出版日期：2016-09-01 |
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