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 Impact of Fe Material Thickness on Performance of Raised Source Overlapped Negative Capacitance Tunnel Field Effect Transistor (NCTFET) Fe材料厚度对凸起源极重叠负电容隧道场效应晶体管(NCTFET)性能的影响
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期刊：Silicon 作者：Amandeep Singh; Sanjeet Kumar Sinha; Sweta Chander 出版日期：2022-01-22 |
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