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![]() 圆柱内爆界面上的模式耦合扰动增长:理论与实验的比较
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期刊:Physical review. E 作者:Xinyu Zhang; Shuai Zhang; Zixiang Yan; Huiling Duan; Yongkun Ding; et al 出版日期:2024-03-05 |
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