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Effects of layer boundaries on x-ray reflectivity in thermally treated ternary gate dielectrics grown by atomic layer deposition |
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期刊:Journal of Vacuum Science & Technology A 作者:Jong-Hong Lu; Yen-Ho Chu; Liang-Pin Chou; Chung-Lin Huang; Wen-Lian Lee; et al 出版日期:2025-09-25 |
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