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Reliability Evaluation of Multichip Phase-Leg IGBT Modules Using Pressureless Sintering of Nanosilver Paste by Power Cycling Tests |
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期刊:IEEE Transactions on Power Electronics 作者:Shancan Fu; Yunhui Mei; Xin Li; Changsheng Ma; Guo‐Quan Lu 出版日期:2016-10-19 |
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(2025-6-4)