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 Unravelling the crossover amongst band and various hopping conduction mechanisms in Mo doped ZnO thin films owing to carrier localization at defects 揭示Mo掺杂ZnO薄膜中载流子在缺陷处的局域化引起的能带交叉和各种跳跃传导机制
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期刊：Journal of Alloys and Compounds 作者：Santanu Pal; T. K. Dalui; Durga Basak 出版日期：2023-02-20 |
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