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 Effect of the Active Layer Thickness on the Negative Bias Illumination Stress-induced Instability in Amorphous InGaZnO Thin-film Transistors 相关领域
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期刊：Journal of the Korean Physical Society 作者：Dongsik Kong; Hyunkwnag Jung; Yongsik Kim; Minkyung Bae; Jaeman Jang; et al 出版日期：2011-08-05 |
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