Semiconductor Wafer Map Defect Classification Using Convolutional Neural Networks on Imbalanced Classes

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标题	Semiconductor Wafer Map Defect Classification Using Convolutional Neural Networks on Imbalanced Classes
网址	http://dx.doi.org/10.1109/icaci65340.2025.11096243
DOI	10.1109/icaci65340.2025.11096243 doi
其它	期刊：2025 17th International Conference on Advanced Computational Intelligence (ICACI) 作者：Nian Zhang; Wagdy H. Mahmoud 出版日期：2025-07-07
求助人	whoaha 在 2026-08-06 19:34:27 发布自江西，悬赏 10 积分
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