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Measurement of Ferroelectric Properties of Nanometer Scaled Individual Metal/Hf0.5Zr0.5O2/Metal Capacitors |
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期刊:IEEE Electron Device Letters 作者:Fei Huang; M. Passlack; San Lin Liew; Zhouchangwan Yu; Qing Lin; et al 出版日期:2021-12-16 |
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