| 标题 |
Better Together: Combining Analytical and Annealing Methods for FPGA Placement Better Together:结合分析和退火方法进行FPGA布局
相关领域
现场可编程门阵列
计算机科学
模拟退火
退火(玻璃)
并行计算
嵌入式系统
算法
材料科学
复合材料
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊: 作者:Rachel Selina Rajarathnam; Kate Thurmer; Vaughn Betz; Mahesh A. Iyer; David Z. Pan 出版日期:2024-09-02 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|