| 标题 |
Highly area-selective atomic layer deposition of device-quality Hf1-xZrxO2 thin films through catalytic local activation 相关领域
原子层沉积
催化作用
图层(电子)
沉积(地质)
材料科学
薄膜
化学工程
原子层外延
纳米技术
化学
有机化学
地质学
沉积物
工程类
古生物学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Chemical Engineering Journal 作者:Hyo‐Bae Kim; Jeong‐Min Lee; Dougyong Sung; Ji‐Hoon Ahn; Woo‐Hee Kim 出版日期:2024-03-27 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|