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 Bandgap measurement of thin dielectric films using monochromated STEM-EELS 使用单色STEM-EELS测量薄介电膜的带隙
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期刊：Ultramicroscopy 作者：Jucheol Park; Sung Heo; JaeGwan Chung; Heekoo Kim; Hyung-Ik Lee; et al 出版日期：2009-05-14 |
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