标题 |
![]() 基于IRCD计量的深沟隔离结构底部宽度的无损测量
相关领域
浅沟隔离
沟槽
计量学
材料科学
电容
CMOS芯片
半导体器件
平版印刷术
光电子学
缩放比例
电子工程
电气工程
光学
工程类
纳米技术
物理
电极
图层(电子)
几何学
数学
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Nick Keller; Marc Poulingue; Ross Grynko; Troy Ribaudo; G. A. Antonelli; et al 出版日期:2024-04-10 |
求助人 | |
下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|