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 书籍 Single Event Upset Characterization of Microsemi RISC-V Softcore Processors on Polarfire MPF300T-1FCG1152E FPGA Using Proton Irradiation 相关领域
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期刊：2024 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2024 NSREC) 作者：Devin P. Ramaswami; David M. Heimstra; Shuting Shi; Zongru Li; Li Chen 出版日期：2024-07-22 |
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