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Chemical trimming overcoat: an advanced spin-on process for photoresist enhancement in EUV lithography |
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期刊:Advances in Patterning Materials and Processes XL 作者:Xisen Hou; Yinjie Cen; Paul Baranowsky; Doris Kang; Cong Liu; et al 出版日期:2023 |
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(2025-6-4)